OKSIDLANGAN KRAXMAL ASOSIDAGI KOMPOZITSION YELIMLARNING MIKROSTRUKTURAVIY XUSUSIYATLARINI SKANERLOVCHI ELEKTRON MIKROSKOPIYA YORDAMIDA O‘RGANISH.

Authors

  • Sherzod Ortiqov

Keywords:

Oksidlangan kraxmal, bioadgeziv yelim, skanerlovchi elektron mikroskopiya (SEM), sirt morfologiyasi, fazalararo moslik, dispersiyalanish darajasi, g‘ovaklik, yoriqlanish, aglomeratsiya, kompozitsion material.

Abstract

Mazkur ishda oksidlangan kraxmal asosida olingan kompozitsion yelimlarning mikrostrukturasi skanerlovchi elektron mikroskopiya (SEM) usuli yordamida tadqiq qilindi. Tadqiqot natijasida kompozitsiyalarning sirt morfologiyasi, fazalararo mosligi, komponentlarning dispersiyalanish darajasi, g‘ovaklik, yoriqlanish hamda aglomeratsiya holatlari baholandi. SEM tahlili asosida oksidlangan kraxmal asosidagi yelimlarning strukturaviy xossalari va ularning amaliy qo‘llanilish imkoniyatlari aniqlandi.

Downloads

Published

2026-10-09

How to Cite

Ortiqov , S. (2026). OKSIDLANGAN KRAXMAL ASOSIDAGI KOMPOZITSION YELIMLARNING MIKROSTRUKTURAVIY XUSUSIYATLARINI SKANERLOVCHI ELEKTRON MIKROSKOPIYA YORDAMIDA O‘RGANISH. Journal of Future Science, Technology and Innovation, 2(1). Retrieved from https://jfsti.uz/index.php/journal/article/view/43

Issue

Vol. 2 No. 1 (2026): Journal of Future Science, Technology and Innovation

Section

Статьи