OKSIDLANGAN KRAXMAL ASOSIDAGI KOMPOZITSION YELIMLARNING MIKROSTRUKTURAVIY XUSUSIYATLARINI SKANERLOVCHI ELEKTRON MIKROSKOPIYA YORDAMIDA O‘RGANISH.

Аннотация

Mazkur ishda oksidlangan kraxmal asosida olingan kompozitsion yelimlarning mikrostrukturasi skanerlovchi elektron mikroskopiya (SEM) usuli yordamida tadqiq qilindi. Tadqiqot natijasida kompozitsiyalarning sirt morfologiyasi, fazalararo mosligi, komponentlarning dispersiyalanish darajasi, g‘ovaklik, yoriqlanish hamda aglomeratsiya holatlari baholandi. SEM tahlili asosida oksidlangan kraxmal asosidagi yelimlarning strukturaviy xossalari va ularning amaliy qo‘llanilish imkoniyatlari aniqlandi.